NI于2014年推出的NI STS，基于實驗室儀表級別精度的模塊化儀器，同時滿足測試精度和量產(chǎn)測試覆蓋率的需求。NI STS是基于模塊化儀器的PXI平臺，因此，NI STS可以不斷擴(kuò)展以滿足日益增多以及定制化的測試需求。
圖1. NI 半導(dǎo)體測試系統(tǒng)內(nèi)部架構(gòu)
NI STS 具有統(tǒng)一的測試平臺—— PXI 平臺，可根據(jù)設(shè)計檢驗到生產(chǎn)測試而隨時調(diào)整、讓設(shè)計與測試部門輕松共用資料，進(jìn)而降低成本。此外，PXI 平臺開放式與模塊化的設(shè)計，使您可以獲得更強(qiáng)大的計算能力及更豐富的儀器資源，進(jìn)一步提升半導(dǎo)體測試效率。
NI不斷在PXI平臺上提供最頂尖的儀器技術(shù)來滿足半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的測試任務(wù)。在這樣的平臺下，在實驗室和產(chǎn)線中內(nèi)部構(gòu)造基本一致。在實驗室中使用到的高性能的儀器在產(chǎn)線中依然可以使用，并加入如分選機(jī)(Handler)/探針(Prober)的集成、標(biāo)準(zhǔn)Docking(包括Soft Dock/Hard Dock)、待測彈簧探針連接、STDF數(shù)據(jù)報表生成和系統(tǒng)校準(zhǔn)等特性，可輕松集成到生產(chǎn)測試滿足半導(dǎo)體產(chǎn)線測試的要求。
同樣在實驗室和量產(chǎn)測試使用統(tǒng)一開發(fā)環(huán)境LabVIEW和測試管理執(zhí)行軟件TestStand，可最大化復(fù)用實驗室中的代碼，減少數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)(Correlation)時間，進(jìn)一步提升半導(dǎo)體測試效率。
圖 2. FT 測試
為了幫助半導(dǎo)體工程師更好的使用NI STS，小編特意為大家準(zhǔn)備了STS 系列培訓(xùn)教程(有詳細(xì)視頻講解哦)，今天先講從“STS Test Head”開始~
NI STS使用培訓(xùn)系列目錄
?、?STS Test Head
NI STS 是一系列用于半導(dǎo)體特性分析和生產(chǎn)的硬件/軟件產(chǎn)品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 組成。T1、T2和 T4 的主要區(qū)別在于它們的尺寸以及它們可容納的 18 插槽 NI PXI 機(jī)箱的數(shù)量(T1 - 一個 PXI 機(jī)箱;T2 - 兩個 PXI 機(jī)箱;T4 - 四個 PXI 機(jī)箱)。本節(jié)介紹了 T1、T2 和 T4 的I/O和控件。本視頻展示了 NI STS 輸入和輸出面板及其在測試單元內(nèi)集成的功能。
?、?STS Operator Interface
本章介紹了在STS上運(yùn)行測試的流程。OI(操作員界面)由多個控件和顯示框組成，它們用于配置測試站、輸入批次信息、執(zhí)行測試以及查看良率、分bin信息和測試結(jié)果。
?、?Tester Admins
本章提供了創(chuàng)建可啟動 USB 驅(qū)動器的參考指南以及使用 Acronis Image 工具加載 STS 控制器鏡像的過程。由于 OI 是客戶端高度定制的操作員界面，因此我們還介紹了如何修改工廠的默認(rèn) STS 操作員界面并滿足客戶的特定需求。
④ Handlers and Probers
STS 可以Soft docking 或 Hard docking接到分選機(jī)和探針測試臺。每種類型的 STS 都由標(biāo)準(zhǔn)通信接口和Docking 接口所組成。NI 已與幾乎所有在大多數(shù)工廠中發(fā)現(xiàn)的常見Handler and Prober對接過。以下視頻介紹了分選機(jī)和探針測試臺驅(qū)動程序的配置過程，并介紹如何在操作員界面配置模擬分選機(jī)。
⑤ Tester Maintenance
本章——測試機(jī)維護(hù)介紹了 NI STS 系統(tǒng)的常規(guī)保養(yǎng)維護(hù)和基本操作。NI STS 維護(hù)軟件是一套軟件工具，使用戶能夠維護(hù)、監(jiān)控、檢修并校準(zhǔn) NI 半導(dǎo)體測試系統(tǒng)。大多數(shù)測試維護(hù)操作可以使用 NI 維護(hù)軟件進(jìn)行。
⑥ Test Program Development and Debug
本章介紹了 STS 測試程序架構(gòu)、TestStand、TestStand半導(dǎo)體模塊 (TSM) 以及客戶在標(biāo)準(zhǔn) Semi ATE 平臺期望的其它組件/功能。引腳編程、分 bin、Digital Pattern編輯器等相關(guān)主題也可在本節(jié)中找到。
STS Test Head
NI STS 是一系列用于半導(dǎo)體特性分析和生產(chǎn)的硬件/軟件產(chǎn)品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 組成。
圖 3. STS Configurations
T1、T2和 T4 的主要區(qū)別在于它們的尺寸以及它們可容納的18 插槽 NI PXI 機(jī)箱的數(shù)量(T1- 一個 PXI 機(jī)箱;T2 - 兩個 PXI 機(jī)箱;T4 - 四個 PXI 機(jī)箱)。本節(jié)介紹了 T1、T2 和 T4 的I / O和控件。
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