測(cè)試測(cè)量

打破半導(dǎo)體測(cè)試僵局的利器——NI STS 使用培訓(xùn)教程(3)

ainet.cn   2018年07月31日

  NI STS使用培訓(xùn)系列目錄

 ?、?STS Test Head

  NI STS 是一系列用于半導(dǎo)體特性分析和生產(chǎn)的硬件/軟件產(chǎn)品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 組成。T1、T2和 T4 的主要區(qū)別在于它們的尺寸以及它們可容納的 18 插槽 NI PXI 機(jī)箱的數(shù)量(T1 - 一個(gè) PXI 機(jī)箱;T2 - 兩個(gè) PXI 機(jī)箱;T4 - 四個(gè) PXI 機(jī)箱)。本節(jié)介紹了 T1、T2 和 T4 的I/O和控件。本視頻展示了 NI STS 輸入和輸出面板及其在測(cè)試單元內(nèi)集成的功能。

 ?、?STS Operator Interface

  本章介紹了在STS上運(yùn)行測(cè)試的流程。OI(操作員界面)由多個(gè)控件和顯示框組成,它們用于配置測(cè)試站、輸入批次信息、執(zhí)行測(cè)試以及查看良率、分bin信息和測(cè)試結(jié)果。

 ?、?Tester Admins

  本章提供了創(chuàng)建可啟動(dòng) USB 驅(qū)動(dòng)器的參考指南以及使用 Acronis Image 工具加載 STS 控制器鏡像的過程。由于 OI 是客戶端高度定制的操作員界面,因此我們還介紹了如何修改工廠的默認(rèn) STS 操作員界面并滿足客戶的特定需求。

  ④ Handlers and Probers

  STS 可以Soft docking 或 Hard docking接到分選機(jī)和探針測(cè)試臺(tái)。每種類型的 STS 都由標(biāo)準(zhǔn)通信接口和Docking 接口所組成。NI 已與幾乎所有在大多數(shù)工廠中發(fā)現(xiàn)的常見Handler and Prober對(duì)接過。以下視頻介紹了分選機(jī)和探針測(cè)試臺(tái)驅(qū)動(dòng)程序的配置過程,并介紹如何在操作員界面配置模擬分選機(jī)。

  ⑤ Tester Maintenance

  本章——測(cè)試機(jī)維護(hù)介紹了 NI STS 系統(tǒng)的常規(guī)保養(yǎng)維護(hù)和基本操作。NI STS 維護(hù)軟件是一套軟件工具,使用戶能夠維護(hù)、監(jiān)控、檢修并校準(zhǔn) NI 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)。大多數(shù)測(cè)試維護(hù)操作可以使用 NI 維護(hù)軟件進(jìn)行。

  ⑥ Test Program Development and Debug

  本章介紹了 STS 測(cè)試程序架構(gòu)、TestStand、TestStand半導(dǎo)體模塊 (TSM) 以及客戶在標(biāo)準(zhǔn) Semi ATE 平臺(tái)期望的其它組件/功能。引腳編程、分 bin、Digital Pattern編輯器等相關(guān)主題也可在本節(jié)中找到。

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