AUKOM 一級課程通過系統(tǒng)的分析測量誤差，即工件、環(huán)境、測量機、操作人員、測量策略，五個方面分析誤差因子，保證策量結(jié)果的準確性。
AUKOM 二級課程是在AUKOM 一級的基礎(chǔ)上，更深入的展開講解人機料法環(huán)對測量結(jié)果準確性的影響。
AUKOM 一級/二級課程學習目的
通過AUKOM理論的系統(tǒng)學習，可以提高CMM操作人員對測量結(jié)果的更加自信的把控，可以為工藝改進提供準確的分析和原因查找，可以防止誤判錯判造成的成本浪費，幫助公司提高生產(chǎn)效率，提高利潤率。
精密檢測環(huán)境要求
環(huán)境對測量結(jié)果的影響是非常嚴重的，環(huán)境是滿足測量的最基本的要求。CMM在安裝之前對溫度、濕度、震動都有明確的要求，以保證設(shè)備精度穩(wěn)定。精度等級越高的設(shè)備，對安裝的環(huán)境要求也會越高。CMM和工件都會受到檢測環(huán)境的影響。
測量策略的制定
● 閱讀和理解圖紙，確定測量任務(wù)，編寫檢測計劃書。
● 確定工件放置姿態(tài)以及在機器上的放置位置。
● 選擇傳感器，確定合適的測量模式。
● 確定基準，選擇坐標系的建立方式。
● 使用元素列表確定恰當?shù)囊丶瓣P(guān)聯(lián)要素。
● 確定評定策略。
● 確定探測策略(測點數(shù)量及分布)。
● 確定傳感器參數(shù)(光照、放大倍率、測力、掃描速度等)。
● 選擇合適的附件。
基準對測量的影響
設(shè)計基準的合理定義，會直接影響加工成本的增加，同時也會造成檢測數(shù)據(jù)的不穩(wěn)定?；鶞蕼y量的好壞會直接影響到測量結(jié)果的質(zhì)量。下面的例子說明了較長的被測要素和短基準之間產(chǎn)生的問題，由于杠桿效應(yīng)，短基準上的形狀偏差對被測要素的位置和方向測量產(chǎn)生的影響是不穩(wěn)定的。
測點的數(shù)量和分布
測量點應(yīng)能更后的表達被測表面的形狀。測點的數(shù)量越多越好，但無數(shù)個點也是不現(xiàn)實的，根據(jù)被測要素的輸出特性，選取合理的點數(shù)，均勻分布在整個被測元素表面。既滿足特性評價，也滿足數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。
下圖是三葉形的圓，當測點數(shù)目不足時，測得圓的直徑和位置會不穩(wěn)定。
▲ 3點均勻分布：直徑變化，圓心穩(wěn)定
▲ 4點均勻分布：直徑穩(wěn)定，圓心變化
▲ 7點均勻分布：直徑和圓心都穩(wěn)定
圖像處理
影像測量可以用輪廓濾波減少污染和毛邊的影響。
異常值濾波用理想幾何要素信息作為異常值計算的基礎(chǔ)，異常值濾波也會濾波輪廓的形狀。
▲ 輪廓濾波
▲ 異常值濾波
計算機斷層攝影原理
X射線管發(fā)出的錐形光束穿透工件，工件在掃描期間旋轉(zhuǎn)，記錄下許多二維射線圖像。例如，一臺二維X射線檢測器記錄下400、800、或1600張在各種旋轉(zhuǎn)位置的射線圖像，并保存用于進一步處理。通過數(shù)學算法，利用總的2D射線圖像重構(gòu)被測物體的記錄體積。
自由曲面測量
空間點測量，空間點的方向與表面法向相反。
測針半徑的方向與表面法向相反。
通常會評價法向方向上的三維距離。
評價過程包括
● 檢測結(jié)果的合理性
● 驗證評價方法
● 考慮擬合方法
● 考慮濾波
● 考慮異常值
● 創(chuàng)建必要的構(gòu)造
結(jié)構(gòu)對三坐標精度的影響
設(shè)備制造商無論多么努力，所有測量機都有自身結(jié)構(gòu)造成的固有測量不確定度。
CMM的精度會受下列因素的影響
● 導軌、軸承和驅(qū)動
● 光柵尺
● 傳感器和附件
工件裝夾
當一個程序要被用于生產(chǎn)測量時，每次測量時都使工件位于相同的位置以防止碰撞是非常重要的。這可以用夾具來實現(xiàn)。必須記錄下列信息：
● 夾具(識別)
● 工件在夾具中的定位
● 工件上的定位點
● 夾具在測量范圍中的位置
更多方案信息請聯(lián)系當?shù)夭趟究蛻糇吭街行摹?/p>
（來源：蔡司）
